Imaging ellipsometry study of multi-layer microflakes / H. Rafla-Yuan in JOURNAL OF COATINGS TECHNOLOGY (JCT), Vol. 72, N° 907 (08/2000)

[article]  inJOURNAL OF COATINGS TECHNOLOGY (JCT) > Vol. 72, N° 907 (08/2000) . - p. 103-106 Titre : Imaging ellipsometry study of multi-layer microflakes Type de document : texte imprimé Auteurs : H. Rafla-Yuan, Auteur ; D. Hoenig, Auteur Année de publication : 2000 Article en page(s) : p. 103-106 Note générale : Bibliogr. Langues : Américain (ame) Tags : Matériau  revêtement  Pigment  métallique  Aluminium  revêtu  Couche  mince  Silice  Formation  image  Ellipsométrie  Etude  expérimentale Index. décimale : 667.9 Revêtements et enduits Résumé : Ellipsometers are commonly used for characterizing thin film coatings. Although they continue to be useful for many applications, the size of the samples has to be restricted to be no less than a few millimeters. In this paper we report on using an imaging ellipsometer to study the characteristics of an SiO2 coating on aluminum microflakes. This novel approach overcomes the lateral resolution limit of conventional ellipsometers, providing access to samples with very small dimensions. A comparison was also made between the coating thickness obtained from imaging ellipsometry and electron microscopy. Permalink : https://e-campus.itech.fr/pmb/opac_css/index.php?lvl=notice_display&id=5858 [article]

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001212	-	Périodique	Bibliothèque principale	Documentaires	Disponible

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