Titre : |
Elaboration and characterisation of ZnO thin films |
Type de document : |
texte imprimé |
Auteurs : |
S. Benramache, Auteur ; B. Benhaoua, Auteur ; N. Khechai, Auteur ; F. Chabane, Auteur |
Année de publication : |
2013 |
Article en page(s) : |
p. 573-580 |
Note générale : |
Bibliogr. |
Langues : |
Français (fre) |
Catégories : |
Caractérisation Couches minces Dip-coating Nanoparticules Oxyde de zinc
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Index. décimale : |
620.1 Mécanique de l'ingénieur (mécanique appliquée) et matériaux |
Résumé : |
Les couches minces de ZnO plus transparents ont été préparées sur des substrats de verre par la méthode dip-coating. Les films ont été obtenus à une concentration de solution sol-gel de 0,5 M. Les propriétés structurales et optiques des couches minces de ZnO ont été étudiées en fonction de la température de recuit variant entre 450 à 600 °C. Par l’analyse DRX, les films obtenus ont une structure hexagonale Wurtzite avec une forte (002) préférée d’orientation à la c-axe. La taille des grains augmente avec l’augmentation de la température de recuit indiquant une amélioration de la cristallinité des films. La transmittance moyenne de tous les films est d’environ 70–80 %, mesurée par l’analyseur UV-vis. La bande interdite augmente avec l’augmentation de la température de 3,25 à 3,42 eV. La diminution de la tension de ZnO films est probablement due à une amélioration de la cristallinité des films. Le meilleur résultat est obtenu à 600 °C. |
DOI : |
http://dx.doi.org/10.1051/mattech/2012052 |
En ligne : |
http://www.mattech-journal.org/articles/mattech/pdf/2012/07/mt120017.pdf |
Format de la ressource électronique : |
Pdf |
Permalink : |
https://e-campus.itech.fr/pmb/opac_css/index.php?lvl=notice_display&id=17044 |
in MATERIAUX & TECHNIQUES > Vol. 100, N° 6/7 (2012) . - p. 573-580