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Polymers under the chemical magnifying glass / Birgit Hagenhoff in KUNSTSTOFFE INTERNATIONAL, Vol. 104, N° 4 (04/2014)
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Titre : Polymers under the chemical magnifying glass Type de document : texte imprimé Auteurs : Birgit Hagenhoff, Auteur Année de publication : 2014 Article en page(s) : p. 42-46 Note générale : Bibliogr. Langues : Anglais (eng) Catégories : Détection de défauts (Ingénierie)
Polyéthylène basse densité
Polyéthylène téréphtalate
Polymères -- Analyse
Spectrométrie de masse à ionisation secondaire
Spectroscopie de photoélectrons
Surfaces -- AnalyseIndex. décimale : 668.4 Plastiques, vinyles Résumé : Surface analysis : To obtain a detailed look at and into the chemical composition of polymers, it is essential to select the most appropriate analytical method. With the aid of X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS) and Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (ToFSIMS) properties can be selectively identified, localized and quantified. Note de contenu : - The analytical toolbox
- X-ray photoelectron spectroscopy
- Time-of-flight secondary ion mass spectrometry
- Identifying and avoiding coating defects
- Understanding surface modifications specifically
- Segragation of additivesEn ligne : https://drive.google.com/file/d/1IuyeAV_vD-UCdN6aTfAnkzy61mRJvwsj/view?usp=drive [...] Format de la ressource électronique : Permalink : https://e-campus.itech.fr/pmb/opac_css/index.php?lvl=notice_display&id=21265
in KUNSTSTOFFE INTERNATIONAL > Vol. 104, N° 4 (04/2014) . - p. 42-46[article]Réservation
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