Dépouillements

Mesurer facilement le revêtement des contacts électriques in GALVANO ORGANO, N° 790 (01-02/2010)

[article]  inGALVANO ORGANO > N° 790 (01-02/2010) . - p. 71 Titre : Mesurer facilement le revêtement des contacts électriques Type de document : texte imprimé Année de publication : 2010 Article en page(s) : p. 71 Langues : Français (fre) Tags : Epaisseur  revêtement  Mesure  Méthode  IOBC  (Independent  of  Base  Composition) Index. décimale : 667.9 Revêtements et enduits Résumé : Dans la pratique, le principe de la fluorescence de rayons X Fischerscope permet de mesurer facilement le revêtement des contacts électriques. La méthode utilisée permet de déterminer précisément l'épaisseur des couches indépendamment de la composition du matériau de base. Permalink : https://e-campus.itech.fr/pmb/opac_css/index.php?lvl=notice_display&id=8419 [article]

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011982	-	Périodique	Bibliothèque principale	Documentaires	Disponible