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Advanced approaches in leather research using X-ray probe equipped SEM microscopy / Claudia Florio in JOURNAL OF THE SOCIETY OF LEATHER TECHNOLOGISTS & CHEMISTS (JSLTC), Vol. 101, N° 4 (07-08/2017)
[article]
Titre : Advanced approaches in leather research using X-ray probe equipped SEM microscopy Type de document : texte imprimé Auteurs : Claudia Florio, Auteur ; Biagio Naviglio, Auteur ; Gianluigi Calvanese, Auteur Année de publication : 2017 Article en page(s) : p. 165-172 Note générale : Bibliogr. Langues : Anglais (eng) Catégories : Cuirs et peaux -- Analyse
Microanalyse par émission X
Microscopie électronique à balayage
Morphologie (matériaux)
RechercheIndex. décimale : 675 Technologie du cuir et de la fourrure Résumé : Early microscopy techniques, such as optical, or the former electronic microscopy techniques, were widely utilised in leather research, mainly as an initial approach, or as additional tool to obtain useful information. Throughout the ages, the developments reached in microscopy technologies have allowed their utilisation as the main, determining tool to get results in many research fields.12
The modern scanning electron microscopy (SEM) technique that we have utilized in leather research, was equipped with an X-ray probe for the microanalysis of the samples and has resulted in being the most required, versatile tool in many applications: hair characterisation, characterisation of micro¬organisms involved in leather damage, investigations on leather defects and their causes, finishing characterisation, surface treatment studies, diagnostic investigations of historic leathers for their value and conservation.
ln the majority of these applications a very small portion of sample was available for the analysis. In spite of this, the technique gave.comprehensive results and was able to solve the most problematic cases of leather damage that we investigated. Particularly, SEM rnicroanalysis is considered to be 'non-destructive' indeed, as X-rays generated by electron interactions do not lead to volume loss of the sample, so it is possible to analyze the same materials repeatedly.
The study provided much interesting feedback, reinforcing our knowledge on all the topics dealt with.Note de contenu : - Morphological studies
- MicroanalysisEn ligne : https://drive.google.com/file/d/1CZ_OBeXNuZc34TERI387aNz4Sa-ZdslJ/view?usp=drive [...] Format de la ressource électronique : Permalink : https://e-campus.itech.fr/pmb/opac_css/index.php?lvl=notice_display&id=28889
in JOURNAL OF THE SOCIETY OF LEATHER TECHNOLOGISTS & CHEMISTS (JSLTC) > Vol. 101, N° 4 (07-08/2017) . - p. 165-172[article]Réservation
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Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité 19176 - Périodique Bibliothèque principale Documentaires Disponible Caractérisation expérimentale des matériaux II / Jean-Luc Martin / Lausanne [Suisse] : Presses polytechniques et universitaires Romandes (1998)
Titre : Caractérisation expérimentale des matériaux II Type de document : texte imprimé Auteurs : Jean-Luc Martin, Auteur ; Amand George, Auteur Editeur : Lausanne [Suisse] : Presses polytechniques et universitaires Romandes Année de publication : 1998 Collection : Traité des matériaux num. 3 Importance : XVI-367 p. Présentation : ill. Format : 25 cm ISBN/ISSN/EAN : 978-2-88074-364-2 Note générale : Index Langues : Français (fre) Catégories : Caractérisation
Faisceaux de neutrons
Faisceaux électroniques
Matière -- Structure
Microanalyse par émission XIndex. décimale : 620.11 Matériaux (propriétés, résistance) Résumé : I - PHYSIQUE DES INTERACTIONS RAYONNEMENT-MATIERE - 1 : Généralités sur les interactions rayonnement-matière - 2 : Diffusion cohérente des rayonnements par les cristaux - 3 : Propagation d'ondes dans les cristaux / II - CARACTERISATION DES MATERIAUX PAR RAYONS X - 4 : Sources de rayons X, conditionnement et analyse des rayons X - 5 : Méthodes de caractérisation structurale par diffusion et diffraction des rayons X - 6 : Topographie aux rayons X / III : CARACTERISATION DES MATERIAUX PAR FAISCEAUX D'ELECTRONS - 7 : Microscope électronique à transmission / 8 : Informations fournies par le microscope électronique à transmission - 9 : Microscope électronique à balayage - 10 : Microanalyse par faisceaux d'électrons / IV : CARACTERISATION DES MATERIAUX PAR FAISCEAUX DE NEUTRONS - 11 : Diffusion et diffraction des neutrons / V : EXEMPLE DE CARACTERISATION DE MATERIAUX PAR RAYONS X ET ELECTRONS - 12 : Etude de la microstructure d'un revêtement réalisé par projection thermique / ANNEXE A : Distribution de dirac, produit de convolution, série de fourier, transformation de Fourier - ANNEXE B : Définition de l'angle solide. Permalink : https://e-campus.itech.fr/pmb/opac_css/index.php?lvl=notice_display&id=633 Réservation
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Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité 0592 620.11 MAR Monographie Bibliothèque principale Documentaires Disponible