Chemical analysis of materials with X-ray photoelectron spectroscopy / A. Quadrelli in SURFACE COATINGS INTERNATIONAL, Vol. 105.5 (09-10/2022)  

[article]  inSURFACE COATINGS INTERNATIONAL > Vol. 105.5 (09-10/2022) . - p. 382-383 Titre : Chemical analysis of materials with X-ray photoelectron spectroscopy Type de document : texte imprimé Auteurs : A. Quadrelli, Auteur ; S. P. Jarvis, Auteur Année de publication : 2022 Article en page(s) : p. 382-383 Note générale : Bibliogr. Langues : Anglais (eng) Catégories : Chimie analytique Spectroscopie de photoélectrons Index. décimale : 543.08 Chimie analytique - Méthodes particulières Note de contenu : - Insights from XPS - Working principles - Multi-techniques capability - What kind of samples can be analysed - Cost and technical expertise En ligne : https://drive.google.com/file/d/1UEXKntFAaLR9IO-s34kECkuY4W1uy_UV/view?usp=drive [...] Format de la ressource électronique : Pdf Permalink : https://e-campus.itech.fr/pmb/opac_css/index.php?lvl=notice_display&id=38298 [article]

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