| Titre : |
Caractérisation expérimentale des matériaux II |
| Type de document : |
texte imprimé |
| Auteurs : |
Jean-Luc Martin, Auteur ; Amand George, Auteur |
| Editeur : |
Lausanne [Suisse] : Presses polytechniques et universitaires Romandes |
| Année de publication : |
1998 |
| Collection : |
Traité des matériaux num. 3 |
| Importance : |
XVI-367 p. |
| Présentation : |
ill. |
| Format : |
25 cm |
| ISBN/ISSN/EAN : |
978-2-88074-364-2 |
| Note générale : |
Index |
| Langues : |
Français (fre) |
| Catégories : |
Caractérisation
Faisceaux de neutrons
Faisceaux électroniques
Matière -- Structure
Microanalyse par émission X
|
| Index. décimale : |
620.11 Matériaux (propriétés, résistance) |
| Résumé : |
I - PHYSIQUE DES INTERACTIONS RAYONNEMENT-MATIERE - 1 : Généralités sur les interactions rayonnement-matière - 2 : Diffusion cohérente des rayonnements par les cristaux - 3 : Propagation d'ondes dans les cristaux / II - CARACTERISATION DES MATERIAUX PAR RAYONS X - 4 : Sources de rayons X, conditionnement et analyse des rayons X - 5 : Méthodes de caractérisation structurale par diffusion et diffraction des rayons X - 6 : Topographie aux rayons X / III : CARACTERISATION DES MATERIAUX PAR FAISCEAUX D'ELECTRONS - 7 : Microscope électronique à transmission / 8 : Informations fournies par le microscope électronique à transmission - 9 : Microscope électronique à balayage - 10 : Microanalyse par faisceaux d'électrons / IV : CARACTERISATION DES MATERIAUX PAR FAISCEAUX DE NEUTRONS - 11 : Diffusion et diffraction des neutrons / V : EXEMPLE DE CARACTERISATION DE MATERIAUX PAR RAYONS X ET ELECTRONS - 12 : Etude de la microstructure d'un revêtement réalisé par projection thermique / ANNEXE A : Distribution de dirac, produit de convolution, série de fourier, transformation de Fourier - ANNEXE B : Définition de l'angle solide. |
| Permalink : |
https://e-campus.itech.fr/pmb/opac_css/index.php?lvl=notice_display&id=633 |
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