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Hybrid multilayer thin-film fabrication by atmospheric deposition process for enhancing the barrier performance / Srikanth Jagadeesan in JOURNAL OF COATINGS TECHNOLOGY AND RESEARCH, Vol. 15, N° 6 (11/2018)
[article]
Titre : Hybrid multilayer thin-film fabrication by atmospheric deposition process for enhancing the barrier performance Type de document : texte imprimé Auteurs : Srikanth Jagadeesan, Auteur ; Jong Hwan Lim, Auteur ; Kyung Hyun Choi ; Yang Hoi Doh Année de publication : 2018 Article en page(s) : p. 1391-1399 Note générale : Bibliogr. Langues : Américain (ame) Catégories : Couches minces multicouches
Dépôt de couches minces atomiques
Matériaux -- Propriétés barrières
Morphologie (matériaux)
Revêtements -- Propriétés mécaniques
Revêtements -- Propriétés optiques
Surfaces -- Analyse
Traitement rouleau à rouleauIndex. décimale : 667.9 Revêtements et enduits Résumé : In this paper, a multilayer barrier thin film, based on polyvinylidene difluoride (PVDF)–silicon dioxide (SiO2), has been fabricated on a PET substrate through a novel method of joint fabrication techniques. The inorganic SiO2 thin film was deposited using a roll-to-roll atmospheric atomic layer deposition system (R2R-AALD), while the organic PVDF layer was deposited on the surface of SiO2 through the electrohydrodynamic atomization (EHDA) technique. The multilayer barrier thin films exhibited very good surface morphology, chemical composition, and optical properties. The obtained values for arithmetic surface roughness and water contact angle of the as-developed multilayer barrier thin film were 3.88 nm and 125°, respectively. The total thickness of the multilayer barrier thin film was 520 nm with a high optical transmittance value (85–90%). The water vapor transmission rate (WVTR) of the barrier thin film was ~ 0.9 × 10−2 g m−2 day−1. This combination of dual fabrication techniques (R2R-AALD and EHDA) for the development of multilayer barrier thin films is promising for gas barrier applications. Note de contenu : - EXPERIMENTAL DETAILS : Materials and method - Roll-to-roll atmospheric atomic layer deposition of SiO2 - PVDF deposition through EHDA technique - Characterization
- RESULTS AND DISCUSSION : Surface morphology - Compositional analysis - Optical properties - Barrier properties - Mechanical propertyDOI : 10.1007/s11998-018-0090-3 En ligne : https://link.springer.com/content/pdf/10.1007%2Fs11998-018-0090-3.pdf Format de la ressource électronique : Permalink : https://e-campus.itech.fr/pmb/opac_css/index.php?lvl=notice_display&id=31356
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