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Chemical analysis of materials with X-ray photoelectron spectroscopy / A. Quadrelli in SURFACE COATINGS INTERNATIONAL, Vol. 105.5 (09-10/2022)

Titre :	Chemical analysis of materials with X-ray photoelectron spectroscopy
Type de document :	texte imprimé
Auteurs :	A. Quadrelli, Auteur ; S. P. Jarvis, Auteur
Année de publication :	2022
Article en page(s) :	p. 382-383
Note générale :	Bibliogr.
Langues :	Anglais (eng)
Catégories :	Chimie analytique Spectroscopie de photoélectrons
Index. décimale :	543.08 Chimie analytique - Méthodes particulières
Note de contenu :	- Insights from XPS - Working principles - Multi-techniques capability - What kind of samples can be analysed - Cost and technical expertise
En ligne :	https://drive.google.com/file/d/1UEXKntFAaLR9IO-s34kECkuY4W1uy_UV/view?usp=drive [...]
Format de la ressource électronique :	Pdf
Permalink :	https://e-campus.itech.fr/pmb/opac_css/index.php?lvl=notice_display&id=38298

Code-barres	Cote	Support	Localisation	Section	Disponibilité
23675	-	Périodique	Bibliothèque principale	Documentaires	Disponible