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Titre : Infrared imaging : This award-winning paper reports on a complementary tool to AFM for adhesive surface analysis Type de document : texte imprimé Auteurs : Peter Gabriele, Auteur ; Herb Hand, Auteur Année de publication : 2001 Article en page(s) : p. 20-30 Note générale : Bibliogr. Langues : Américain (ame) Index. décimale : 668.3 Adhésifs et produits semblables Résumé : FT-IR imaging provides spatially resolved spectroscopy with microscopic techniques to generate chemically specific context images of subject materials. Imaging offers detailed characterization of the heterogeneity and spatial organization of complex compositions. We have shown that FT-IR imaging can be useful adjunct to atomic force microscopy and capability of each instrument. This technique provides spatial localization of chemical features and the direct identification and spatial visualization of multi-component spatially separated samples at the microscopic scale. Note de contenu : - BACKGROUND
- FT-IR IMAGING
- METHODS AND MATERIALS
- INSTUMENTATION : Attenuated total reflectance (ATR) - FT-IR imaging - Atomic force microscopyEn ligne : https://drive.google.com/file/d/17ILIefUjtJ_UxuWAocqTi7LkcFYWgP_Q/view?usp=drive [...] Format de la ressource électronique : Permalink : https://e-campus.itech.fr/pmb/opac_css/index.php?lvl=notice_display&id=19839
in ADHESIVES AGE > Vol. 44, N° 6 (06/2001) . - p. 20-30[article]Réservation
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