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Auteur N. Khechai
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Université de Biskra - Algérie
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Elaboration and characterisation of ZnO thin films / S. Benramache in MATERIAUX & TECHNIQUES, Vol. 100, N° 6/7 (2012)
[article]
Titre : Elaboration and characterisation of ZnO thin films Type de document : texte imprimé Auteurs : S. Benramache, Auteur ; B. Benhaoua, Auteur ; N. Khechai, Auteur ; F. Chabane, Auteur Année de publication : 2013 Article en page(s) : p. 573-580 Note générale : Bibliogr. Langues : Français (fre) Catégories : Caractérisation
Couches minces
Dip-coating
Nanoparticules
Oxyde de zincIndex. décimale : 620.1 Mécanique de l'ingénieur (mécanique appliquée) et matériaux Résumé : Les couches minces de ZnO plus transparents ont été préparées sur des substrats de verre par la méthode dip-coating. Les films ont été obtenus à une concentration de solution sol-gel de 0,5 M. Les propriétés structurales et optiques des couches minces de ZnO ont été étudiées en fonction de la température de recuit variant entre 450 à 600 °C. Par l’analyse DRX, les films obtenus ont une structure hexagonale Wurtzite avec une forte (002) préférée d’orientation à la c-axe. La taille des grains augmente avec l’augmentation de la température de recuit indiquant une amélioration de la cristallinité des films. La transmittance moyenne de tous les films est d’environ 70–80 %, mesurée par l’analyseur UV-vis. La bande interdite augmente avec l’augmentation de la température de 3,25 à 3,42 eV. La diminution de la tension de ZnO films est probablement due à une amélioration de la cristallinité des films. Le meilleur résultat est obtenu à 600 °C. DOI : http://dx.doi.org/10.1051/mattech/2012052 En ligne : http://www.mattech-journal.org/articles/mattech/pdf/2012/07/mt120017.pdf Format de la ressource électronique : Permalink : https://e-campus.itech.fr/pmb/opac_css/index.php?lvl=notice_display&id=17044
in MATERIAUX & TECHNIQUES > Vol. 100, N° 6/7 (2012) . - p. 573-580[article]Réservation
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