| Titre : |
La difraction des rayons X sur des échantillons polycristallins : Quels instruments pour quelles mesures ? |
| Type de document : |
texte imprimé |
| Auteurs : |
René Guinebretière, Auteur |
| Année de publication : |
2014 |
| Article en page(s) : |
p. 114-120 |
| Note générale : |
Bibliogr. |
| Langues : |
Français (fre) |
| Catégories : |
Cristallographie
Diffractomètres
Diffractométrie de rayons X
Echantillonnage
|
| Index. décimale : |
548 Cristallographie |
| Résumé : |
La diffraction des rayons X par les cristaux est un phénomène physique qui est depuis un siècle au centre des études de cristallographie. Lorsqu’il s’agit de la diffraction simultanée d’un grand nombre de cristaux, on parle de diffraction sur échantillons polycristallins. Cette méthode est l’une des plus utilisée, en particulier pour caractériser les matériaux. Ceux-ci sont toutefois très divers : pulvérulents ou compacts, en couches minces ou massifs. De plus, la nature des informations recherchées est très variable.
La conception des diffractomètres résulte nécessairement de l’optimisation de certains compromis, et pour chaque type de mesure, il convient de choisir la configuration adaptée. Le propos de cet article est de donner les principaux éléments de ce choix. |
| Note de contenu : |
- DE LA DIFFRACTION PAR UN MONOCRISTAL A CELLE PAR UN ENSEMBLE DE CRISTAUX
- DES PREMIERS TRAVAUX AUX MONTAGES CONVENTIONNELS ACTUELS : Les diffractomètres Debye-Scherrer et Hull modernes - Les diffractomètres Seemann, Bohlin et Guinier - Les diffractomètres Bragg-Brentano
- NOUVEAUX DEVELOPPEMENTS : Une forte tendance à l'utilisation de détecteurs à localisation mono- ou bidimensionnels - Utilisation de microfaisceaux - Où l'on revisite le dogme : utilisation d'un faisceau polychromatique pour étudier des échantillons polycristallins |
| En ligne : |
https://new.societechimiquedefrance.fr/numero/la-diffraction-des-rayons-x-sur-de [...] |
| Format de la ressource électronique : |
Pdf |
| Permalink : |
https://e-campus.itech.fr/pmb/opac_css/index.php?lvl=notice_display&id=21889 |
in L'ACTUALITE CHIMIQUE > N° 387-388-389 (07-08-09-10/2014) . - p. 114-120
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La difraction des rayons X sur des échantillons polycristallins in L'ACTUALITE CHIMIQUE, N° 387-388-389 (07-08-09-10/2014)
