Diffraction X haute résolution : les secrets de la liaison chimique révélés / Claude Lecomte in L'ACTUALITE CHIMIQUE, N° 356-357 (10-11/2011)  

[article]  inL'ACTUALITE CHIMIQUE > N° 356-357 (10-11/2011) . - p. 118-121 Titre : Diffraction X haute résolution : les secrets de la liaison chimique révélés Type de document : texte imprimé Auteurs : Claude Lecomte, Auteur ; Bendeif El-Eulmi, Auteur ; Sébastien Pillet, Auteur Année de publication : 2011 Article en page(s) : p. 118-121 Note générale : Bibliogr. Langues : Français (fre) Catégories : Cristallographie Diffractométrie de rayons X Liaisons chimiques Rayonnement synchrotron Structure moléculaire Index. décimale : 548 Cristallographie Résumé : La cristallographie et la diffraction des rayons X sont incontournables pour la détermination et l'analyse de la structure cristalline dans des conditions d'équilibre thermodynamique. L'analyse de densité électronique par diffraction de rayons X à haute résolution permet par ailleurs une modélisation expérimentale fine de la liaison chimique et des propriétés électrostatiques comme le montrent les trois exemples présentés dans cet article. Les développements récents permettent d'envisager des études de matériaux hors équilibre dans des états excités transitoires de très courte durée de vie. En ligne : https://new.societechimiquedefrance.fr/numero/diffraction-x-haute-resolution-les [...] Format de la ressource électronique : Pdf Permalink : https://e-campus.itech.fr/pmb/opac_css/index.php?lvl=notice_display&id=12546 [article]

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