| Titre : |
Caractérisation microstructural des matériaux : Analyse par les rayonnements X et électronique |
| Type de document : |
texte imprimé |
| Auteurs : |
Claude Esnouf, Auteur |
| Editeur : |
Lausanne [Suisse] : Presses polytechniques et universitaires Romandes |
| Année de publication : |
2011 |
| Collection : |
Metis Lyon Tech |
| Importance : |
XVI-579 p. |
| Présentation : |
ill. |
| Format : |
24 cm |
| ISBN/ISSN/EAN : |
978-2-88074-884-5 |
| Prix : |
70,69 E |
| Note générale : |
Exercices avec solutions - Liste des symboles et acronymes - Index - Bibliogr. |
| Langues : |
Français (fre) |
| Catégories : |
Caractérisation
Cristallographie
Faisceaux électroniques
Matériaux
Microstructures
Rayons X
|
| Index. décimale : |
548 Cristallographie |
| Résumé : |
Cet ouvrage présente de façons exhaustive et pédagogique les bases physiques et méthodologiques de caractérisation des matériaux basées sur l’utilisation des rayonnements X et électronique. Rédigé par l’un des meilleurs spécialistes francophones du domaine, les six chapitres de cet ouvrage couvrent l’ensemble de la discipline, depuis l’exposé du langage spécialisé de la cristallographie jusqu’aux méthodes fines impliquant les grands instruments scientifiques. Les méthodes basées sur l’usage du rayonnement X et du rayonnement électronique et mettant en œuvre la diffraction ou l’imagerie sont exposées en détail, tout comme les nombreux modes d’imagerie électronique. Un chapitre entier est par ailleurs dévolu à la présentation des spectroscopies utiles tant à la caractérisation d’ordre chimique que celle d’ordre structural.
Illustré de nombreux exemples et d’exercices résolus, ce manuel constitue une véritable référence pour les étudiants de second cycle d’écoles d’ingénieur, de Master, ainsi que pour les praticiens désireux d’approfondir leurs connaissances dans le domaine. |
| Note de contenu : |
- Éléments de cristallographie
- Diffraction par les cristaux
- Radiocristallographie X
- Diffraction par les rayonnements corpusculaires
- Imagerie électronique
- Spectroscopies x et électronique
ANNEXES :
- Réseaux et groupes à deux dimensions
- Transformée de Fourier, produit de convolution et fonction de Patterson - Coefficient de Debye-Waller
- Rappels sur la structure électronique d’un atome
- Optique diffractive : réseaux zonés et lentille de Fresnel - Facteur de forme et géométrie du cristal
- Relation facteur de diffusion électronique et potentiel
- Facteur de diffusion électronique dans le modèle de Wentzel-Yukawa
- Correcteurs d’aberrations
- Compléments à l’imagerie de haute résolution
- Règle d’or de fermi et sections efficaces de pertes |
| Permalink : |
https://e-campus.itech.fr/pmb/opac_css/index.php?lvl=notice_display&id=16527 |
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Caractérisation microstructural des matériaux / Lausanne [Suisse] : Presses polytechniques et universitaires Romandes (2011)
