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Appliquer la maîtrise statistique des procédés (MSP/SPC) / Maurice Pillet / Paris : Eyrolles - Editions d'Organisation (2005)
Titre : Appliquer la maîtrise statistique des procédés (MSP/SPC) Type de document : texte imprimé Auteurs : Maurice Pillet, Auteur Mention d'édition : 4e édition revue et augmentée Editeur : Paris : Eyrolles - Editions d'Organisation Année de publication : 2005 Importance : 530 p. Présentation : ill. Format : 24 cm Prix : 45 E Note générale : Index - Logiciels et sites internet - Bibliogr. Langues : Français (fre) Catégories : Commande de processus
Maîtrise statistique des processus
Qualité -- Contrôle -- Méthodes statistiquesIndex. décimale : 670 Fabrication industrielle : planification, conception, fabrication des produits Résumé : Dans tous les secteurs industriels, la maitrise statistique des processus (MSP ou SPC) est une démarche incontournable pour garantir une grande qualité des produits à un coût minimal. Cette méthode est fondée sur deux approches fondamentales :
- le suivi et le pilotage des processus industriels par cartes de contrôle,
- la mesure des capabilités (aptitudes) des systèmes de productionNote de contenu : 1. Maîtrise Statistique des Processus et performance industrielle
2. Les concepts de la Maîtrise Statistique des Processus (MSP°
3. Capabilité des processus de contrôle
4. Les étude de capabilité (d'aptitude)
5. Les cartes de contrôle
6. Les cartes EWMA et CUSUM
7. Le cas des processus multidimensionnels
8. Les cas des attributs
9. Le cas des petites séries
10. Le cas des distributions non gaussiennes et des critères unilatéraux
11. Du tolérancement au pire des cas au tolérancement inertiel
Annexes : Statistiques de basePermalink : https://e-campus.itech.fr/pmb/opac_css/index.php?lvl=notice_display&id=12375 Réservation
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Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité 3063 670 PIL Monographie Bibliothèque principale Documentaires Disponible A comparison of statistical process control (SPC) and on-line multivariate analyses (MVA) for injection molding / David O. Kazmer in INTERNATIONAL POLYMER PROCESSING, Vol. XXIII, N° 5 (11/2008)
[article]
Titre : A comparison of statistical process control (SPC) and on-line multivariate analyses (MVA) for injection molding Type de document : texte imprimé Auteurs : David O. Kazmer, Auteur ; S. Westerdale, Auteur ; D. Hazen, Auteur Année de publication : 2008 Article en page(s) : p. 447-458 Note générale : Bibliogr. Langues : Anglais (eng) Catégories : Analyse multivariée
Maîtrise statistique des processus
Matières plastiques -- Moulage par injectionIndex. décimale : 668.9 Polymères Résumé : Manufacturing process automation is often impeded by limitations related to automatic quality assurance. Many plastics manufacturers use univariate statistical process control (SPC) for quality control by charting the critical process states relative to defined control limits. Alternatively, principal component analysis (PCA) and projection to latent stuctures (PLS) are multivariate methods that measure the process variance by the distance to the model (DModX) and the Hotelling t-squared (T2) values. A methodology for robust model development is described to perturb the manufacturing process for process characterization based on a design of experiments; best subset analysis is used to provide an optimal set of regressors for univariate SPC. Four different statistical models were derived from the same data set for a highly instrumented injection molding process. The performance of these models was then assessed with respect to fault diagnosis and defect identification when the molding process was subjected to twelve common process faults. Across two hundred molding cycles, the univariate SPC models correctly diagnosed five of the twelve process faults with one false positive, detecting only eighteen of twenty four defective products while indicating two false positives. With the same molding cycles, PCA and PLS provided nearly identical performance by correctly diagnosing ten of the twelve process faults and detecting twenty three of the twenty four defective products; PCA indicated two false positives while PLS indicated only one false positive. DOI : 10.3139/217.2192 En ligne : https://drive.google.com/file/d/1doYxndMfcRvgVJw5pbjvndTDY8uHIzFl/view?usp=drive [...] Format de la ressource électronique : Permalink : https://e-campus.itech.fr/pmb/opac_css/index.php?lvl=notice_display&id=2615
in INTERNATIONAL POLYMER PROCESSING > Vol. XXIII, N° 5 (11/2008) . - p. 447-458[article]Réservation
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Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité 010830 - Périodique Bibliothèque principale Documentaires Disponible "Live" quality control / Andreas Schnabel in KUNSTSTOFFE INTERNATIONAL, Vol. 102, N° 4 (04/2012)
[article]
Titre : "Live" quality control Type de document : texte imprimé Auteurs : Andreas Schnabel, Auteur ; Oliver Hissmann, Auteur Année de publication : 2012 Article en page(s) : p. 44-47 Langues : Anglais (eng) Catégories : Conception technique
Films plastiques
Maîtrise statistique des processus
Qualité -- ContrôleIndex. décimale : 668.4 Plastiques, vinyles Résumé : Integrated Inspection - An integrated inspection system concept for plastic film production makes it possible for process and quality analysis to be carried out at different workplaces by various responsible personnel. SPC visualization directly on the machine via the inspection systems opens up great potential for handling quality and process information. Note de contenu : - Teach-in technology
- Fully integrated concept
- Integration into the production plantPermalink : https://e-campus.itech.fr/pmb/opac_css/index.php?lvl=notice_display&id=15132
in KUNSTSTOFFE INTERNATIONAL > Vol. 102, N° 4 (04/2012) . - p. 44-47[article]Réservation
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Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité 13841 - Périodique Bibliothèque principale Documentaires Disponible La Maîtrise statistique des procédés MSP/SPC / Emmanuel Duclos / Doussard : Emmanuel Duclos Conseil (2008)
Titre : La Maîtrise statistique des procédés MSP/SPC Type de document : texte imprimé Auteurs : Emmanuel Duclos, Auteur Editeur : Doussard : Emmanuel Duclos Conseil Année de publication : 2008 Importance : 211 p. Présentation : ill. Format : 30 cm ISBN/ISSN/EAN : 978-2-9518260-1-4 Prix : 28,50 E Note générale : Index - Bibliogr. Langues : Français (fre) Catégories : Commande de processus
Maîtrise statistique des processus
Qualité -- Contrôle -- Méthodes statistiquesIndex. décimale : 670 Fabrication industrielle : planification, conception, fabrication des produits Note de contenu : - Entrée en matière - Les bases de la MSP
- 2. Quelques notions de statistiques
- 3. Les indicateurs de capabilité
- 4. Les cartes de contrôle
- 5. Cartes CUSUM et EWMA
- 6. Les petites séries
- 7. Etude des moyens de mesure
- 8. Les cartes aux attributs
- A. Annexe : Les coefficients correcteurs - Capabilité d'une loi de défaut de forme - Capabilité pour une loi de Rayleigh
- B. Tables MSP
- C. Tables statistiquesPermalink : https://e-campus.itech.fr/pmb/opac_css/index.php?lvl=notice_display&id=2776 Réservation
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Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité 2502 670 DUC Monographie Bibliothèque principale Documentaires Disponible Managing Supplier Quality with Global SPC in ADHESIVES & SEALANTS INDUSTRY (ASI), Vol. 16, N° 2 (02/2009)
[article]
Titre : Managing Supplier Quality with Global SPC : A cost-effective, global solution Type de document : texte imprimé Année de publication : 2009 Article en page(s) : p. 17-19 Langues : Américain (ame) Catégories : Commande de processus
Maîtrise statistique des processusIndex. décimale : 519.86 Contrôle de la qualité et autres ajustements statistiques En ligne : http://www.adhesivesmag.com/Articles/Feature_Article/BNP_GUID_9-5-2006_A_1000000 [...] Permalink : https://e-campus.itech.fr/pmb/opac_css/index.php?lvl=notice_display&id=3847
in ADHESIVES & SEALANTS INDUSTRY (ASI) > Vol. 16, N° 2 (02/2009) . - p. 17-19[article]Réservation
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Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité 011088 - Périodique Bibliothèque principale Documentaires Disponible Méthodes statistiques. Maitrîse statistique des processus - Tome 4 / Association Française de Normalisation (Paris) / Saint-Denis La Plaine : Association Française de Normalisation (AFNOR) (1996)
PermalinkSavoir utiliser la satistique / Pierre Souvay / Saint-Denis La Plaine : Association Française de Normalisation (AFNOR) (2002)
PermalinkLes systèmes de production dans un environnement CIM / Jimmie Browne / Saint-Denis La Plaine : Association Française de Normalisation (AFNOR) (1994)
Permalink