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Auteur Jean-Yves Buffière |
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Caractérisation de l'endommagement dans les matériaux de structure par tomographie haute résolution à rayons X / Gilles Peix in REVUE DES COMPOSITES ET DES MATERIAUX AVANCES, Vol. 7, N° Hors série (1997)
[article]
fait partie de Vol. 7, N° Hors série - 1997 - Interfaces dans les composites à fibres longues (Bulletin de REVUE DES COMPOSITES ET DES MATERIAUX AVANCES) / Pascal Reynaud
Titre : Caractérisation de l'endommagement dans les matériaux de structure par tomographie haute résolution à rayons X Type de document : texte imprimé Auteurs : Gilles Peix, Auteur ; Jean-Yves Buffière, Auteur ; Sandrine Cardinal, Auteur ; Peter Cloetens, Auteur ; Murielle Salomé, Auteur ; Françoise Peyrin, Auteur ; Daniel Babot, Auteur Année de publication : 1997 Article en page(s) : p. 59-67 Note générale : Bibliogr. Langues : Français (fre) Catégories : Caractérisation
Composites
Composites à matrice métallique
Endommagement (mécanique)
Imagerie tridimensionnelle
Matériaux -- Fissuration
Rayonnement synchrotron
TomographieIndex. décimale : 620.112 Résistance et autres propriétés des matériaux, essais non destructifs Résumé : Des images tomographiques à haute résolution (pas d'échantillonnage 6,5 µm) ont été obtenurs à l'ESRF (European Synchrotron Radiation Facility) de Grenoble. elles mettent en évidence l'apparition de l'endommagement consécutif à des essais de traction monotone, effectués sur deux matériaux composites à matrice aluminium (alliage 6061). Dans le premier matériau, contenant une fibre unique de carbure de silicium (SiC), l'apparition, sur la courbe contrainte-déformation, d'un crochet brutal a coïncidé avec une rupture de la fibre en trois points,distants de 200 µm seulement. Dans le second matériau, renforcé par des particules de SiC présentant une taille moyenne de 120 µm seulement. Dans le second matériau, renforcé par des particules de SiC présentant une taille moyenne de 120 µm, des fissures ont été détectées aussi bien dans les particules elles-mêmes que dans la matrice. Dans ces deux cas, l'imagerie tridimensionnelle (3D) permet de suivre le développement des fissures à l'intérieur de l'échantillon et de visualiser leur interaction avec les particules ou avec les défauts d'élaboration de la matrice. Permalink : https://e-campus.itech.fr/pmb/opac_css/index.php?lvl=notice_display&id=9527
in REVUE DES COMPOSITES ET DES MATERIAUX AVANCES > Vol. 7, N° Hors série (1997) . - p. 59-67[article]Exemplaires (1)
Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité 012207 - Périodique Bibliothèque principale Documentaires Disponible La microstructure 3D des matériaux polycristallins vue sous la lumière synchrotron / Wolfgang Ludwig in L'ACTUALITE CHIMIQUE, N° 356-357 (10-11/2011)
[article]
Titre : La microstructure 3D des matériaux polycristallins vue sous la lumière synchrotron Type de document : texte imprimé Auteurs : Wolfgang Ludwig, Auteur ; Andrew King, Auteur ; Michael Herbig, Auteur ; Peter Reischig, Auteur ; James Marrow, Auteur ; Laurent Babout, Auteur ; Henry Proudhon, Auteur ; Erik Mejdal Lauridsen, Auteur ; Jean-Yves Buffière, Auteur Année de publication : 2011 Article en page(s) : p. 62-67 Note générale : Bibliogr. Langues : Français (fre) Catégories : Imagerie tridimensionnelle
Microstructures
Rayonnement synchrotron
Structure cristalline (solide)
TomographieIndex. décimale : 539.1 Structure de la matière Résumé : Les techniques d'imagerie et de diffraction au rayonnement synchrotron offrent de nouvelles possibilités pour la caractérisation tridimensionnelle et non destructive des matériaux polycristallins. De faibles variations de densité électronique (phases secondaires, fissures, porosités) peuvent êtres détectées grâce à des modes d'imagerie qui exploitent la diffraction de Fresnel ainsi que la cohérence des faisceaux issus des sources synchrotron de troisième génération. La tomographie par contraste de diffraction, autre technique d'imagerie 3D basée sur la diffraction de Bragg, donne accès à la forme, l'orientation et l'état de déformation élastique des grains dans des volumes polycristallins contenant jusqu'à mille grains. La combinaison de ces deux modes d'imagerie permet de caractériser des matériaux polycristallins à l'échelle du micron. Des observations répétées lors d'essais mécaniques (interrompus) permettent d'analyser le rôle de la cristallographie locale sur les mécanismes de déformation et de dégradation dans des matériaux polycristallins, respectant certaines conditions sur la taille de grains, et/ou leur état de déformation. En ligne : https://new.societechimiquedefrance.fr/numero/la-microstructure-3d-des-materiaux [...] Format de la ressource électronique : Permalink : https://e-campus.itech.fr/pmb/opac_css/index.php?lvl=notice_display&id=12542
in L'ACTUALITE CHIMIQUE > N° 356-357 (10-11/2011) . - p. 62-67[article]Réservation
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Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité 13461 - Périodique Bibliothèque principale Documentaires Disponible