Diffraction / Maurice Françon / Paris : Gauthier-Villars Editeur (1964)

Titre : Diffraction : Cohérence en optique Type de document : texte imprimé Auteurs : Maurice Françon (1913), Auteur Editeur : Paris : Gauthier-Villars Editeur Année de publication : 1964 Importance : 119 p. Présentation : ill. Format : 24 cm Prix : 31 F Langues : Français (fre) Catégories : Cohérence (optique) Optique Index. décimale : 535.4 Dispersion, interférence, diffraction de la lumière Résumé : I : Le principe de Huygens et les phénomènes de diffraction source ponctuelle monochromatique / II : Diffraction à l'infini par une ouverture de forme simple / III : La transformation de Fourier / IV : Diffraction à l'infini par plusieurs ouvertures / V : Sources et objets lumineux étendus. Cohérence / VI : Phénomènes de diffraction dans les instruments d'optique parfaits / VII : Phénomènes de diffraction dans les instruments d'optique réels. Permalink : https://e-campus.itech.fr/pmb/opac_css/index.php?lvl=notice_display&id=858

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0218	535.4 FRA	Monographie	Bibliothèque principale	Documentaires	Disponible

Three-dimensional under the surface / Niels König in KUNSTSTOFFE INTERNATIONAL, Vol. 103, N° 5 (05/2013)

[article]  inKUNSTSTOFFE INTERNATIONAL > Vol. 103, N° 5 (05/2013) . - p. 21-23 Titre : Three-dimensional under the surface Type de document : texte imprimé Auteurs : Niels König, Auteur ; Nicolai Brill, Auteur Année de publication : 2013 Article en page(s) : p. 21-23 Langues : Anglais (eng) Catégories : Cohérence (optique) Epaisseur -- Mesure Matières plastiques Tomographie Index. décimale : 668.4 Plastiques, vinyles Résumé : Coherence Tomography - The testing of the inner layers of complex structures and multi-layer systems is a challenge for measuring methods used to date. One solution to this is offered by optical coherence tomography (OCT) developed at the Fraunhofer Institute for Production Technology. The method was tested for the wall thickness measurement of plastic vials. Note de contenu : - High measurement frequencies, real-time signals and flexible data acquisition - Interferometer with spectral analysis - Measurement of complex structures and multi-layer systems - Monitoring in endless processes with high speeds Permalink : https://e-campus.itech.fr/pmb/opac_css/index.php?lvl=notice_display&id=18619 [article]

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15093	-	Périodique	Bibliothèque principale	Documentaires	Disponible

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